ATMEGA系列ATMEL芯片-亿配芯城-基于随机有限集的多传感器多目标跟踪技术
你的位置:ATMEGA系列ATMEL芯片-亿配芯城 > 芯片资讯 > 基于随机有限集的多传感器多目标跟踪技术
基于随机有限集的多传感器多目标跟踪技术
发布日期:2023-12-29 07:17     点击次数:163

  本文综述了基于随机有限集方法的多传感器多目标跟踪的最新研究进展。在多传感器滤波中起基础性作用的融合方法可分为数据层多目标测量融合和评估层多目标密度融合,分别共享融合传感器之间的局部测量值与后验密度。分析每个融合规则的重要属性,包括最优性和次优性。阐述面向不同随机有限集的两种健壮的多目标密度平均方法:算术平均融合与几何平均融合。最后突出强调相关研究主题与现存研究挑战。

  作者:

  达凯1, 电子元器件PDF资料大全李天成2, ATMEGA系列ATMEL芯片COMATMEGA系列-ATMEL芯片朱永锋1, 芯片交易网IC交易网范红旗1,CMOS图像传感器集成电路芯片付强1

  

  

  

  

  

  

  

  

  审核编辑:黄飞